北京普源 福祿克 萬用表 日本共立 科爾摩根 紅外測溫儀 美國泰克
對碳膜上Sn球放大3萬倍進行面分析。即使是SE圖像(左側)上直徑只有50nm左右的Sn顆粒,在X射線圖像(右側)上也是清晰可見
暫無評論
訂閱時事通訊以獲取所有更新
隨時掌握最新的產品資訊
Copyright © 2012-2024.北京恒通萬達儀器有限公司All rights reserved.京ICP備12045257號-6