北京普源 福祿克 萬用表 日本共立 科爾摩根 紅外測溫儀 美國泰克
用于調(diào)查分析何時出現(xiàn)電子元器件,和機(jī)械零件的摩耗和使用壽命的問題,使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀,以及分析失效率上升的原因所進(jìn)行的試驗。
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