北京普源 福祿克 萬用表 日本共立 科爾摩根 紅外測溫儀 美國泰克
借助高性能 X 射線管和高靈敏鍍的硅漂移探測器 (SDD),可對超薄鍍層進行精確測量 極為堅固的結構支持長時間批量測試,具有卓越的長期穩定性 擁有大測量距離的XDV-μ LD型儀器(小12mm
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